Express+VI 技术资料

汇集 Express+VI 相关的电路原理图、PCB工程文件、单片机/FPGA源代码、数据手册与应用设计方案。

收录资源 221 份 全站深度检索
压缩工程

本文分析了影响VA法高阻测量精度的主要因素,设计了以单片机为核心的高阻测量仪。采用加压浏流 的 方 案 , 运用 双 屏蔽输入电缆、优选输入级器件、隔离等关健技术,使电阻浏量可达10160,电流测量可达10一”Aa