CPU+Design

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可测试性设计(Design-For-Testability,DFT)已经成为芯片设计中不可或缺的重要组成部分。它通过在芯片的逻辑设计中加入测试逻辑提高芯片的可测试性。在高性能通用 CPU 的设计中,可测试性设计技术得到了广泛的应用。本文结合...

2021-10-15 2 CPU+Design

8位risc cpu的编写,使用quartus软件对其进行写入,里面内置乘法器、除法器等模块

2016-08-13 20 CPU+Design