CMOS+sensor 技术资料

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闩锁效应是指CMOS器件所固有的寄生双极晶体管被触发导通,在电源和地之间存在一个低阻通路,大电流,导致电路无法正常工作,甚至烧毁电路

电路图纸

适用于模拟与数字电路设计的工程师,在CMOS器件可靠性分析中具有重要参考价值。深入解析闩锁效应成因及抑制方法,助力优化驱动电路布局与抗干扰设计。