📚 CEM 1.2技术资料

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🔌 电路图:1
CEM 1.2作为先进的电磁兼容性设计与分析工具,广泛应用于电子设备的EMC预认证测试及优化过程中。它支持从电路板级到系统级的全面仿真,帮助工程师高效解决信号完整性、电源完整性和电磁干扰等问题。通过使用CEM 1.2,您可以显著缩短产品开发周期并提高产品质量。我们提供29811个精选资源,包括教程、案例研究和技术文档等,助力您深入学习和应用这一强大技术。立即访问,开启您的EMC设计之旅!

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%求输入一维信号的计盒分形维数 %y是一维信号 %cellmax:方格子的最大边长,可以取2的偶数次幂次(1,2,4,8...),取大于数据长度的偶数 %D是y的计盒维数(一般情况下D>=1),D=lim(log(N(e))/log(k/e)),...

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