这篇文章主要介绍ARM JTAG调试的基本原理。基本的内容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介绍
这篇文章主要介绍ARM JTAG调试的基本原理。基本的内容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介绍，在此基础上，结合ARM7TD...
BOUNDARY-SCAN技术资料
📦 资源总数：143
💻 源代码：13159
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Boundary-Scan Description file (BSD) for the AT91SAM7X256 in LQFP package
Boundary-Scan Description file (BSD) for the AT91SAM7X256 in LQFP package...
Boundary-Scan Description file (BSD) for the AT91SAM7X256, AT91SAM7X128, AT91SAM7XC256, AT91SAM7XC12
Boundary-Scan Description file (BSD) for the AT91SAM7X256, AT91SAM7X128, AT91SAM7XC256, AT91SAM7XC12...
这篇文章主要介绍ARM JTAG调试的基本原理。基本的内容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介绍
这篇文章主要介绍ARM JTAG调试的基本原理。基本的内容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介绍，在此基础上，结合ARM7TD...
OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN
OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN...
xapp069 - 使用XC9500 JTAG边界扫描接口
This application note explains the XC9500™/XL/XV Boundary Scan interface anddemonstrates the...
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CPU可测试性设计
可测试性设计（Design-For-Testability，DFT）已经成为芯片设计中不可或缺的重要组成部分。它通过在芯片的逻辑设计中加入测试逻辑提高芯片的可测试性。在高性能通用 CPU 的设计中，可...
JTAG基础知识
IEEE1149.1的产生1985年由IBM、AT&T、Texas Instruments、Philips Electronics NV、Siemens、Alcatel和Ericsson等公司...
VIP专区-嵌入式/单片机编程源码精选合集系列（39）
VIP专区-嵌入式/单片机编程源码精选合集系列（39）资源包含以下内容：1. 这是有关SPI总线的一段读写程序.2. 这是一段MAX7219的驱动C51源程序.3. 利用msp430的通用I/O端口模...