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AEC-Q100G 的查询结果
技术资料 AEC-Q100G 中文资料
本文件包括了一系列应力测试失效机理、 最低应力测试认证要求的定义及集成电路认证的参考测试条件。 这些测试能够模拟跌落半导体器件和封装失效， 目的是能够相对于一般条件加速跌落失效。 这组测试应该是有区别的使用，每个认证方案应检查以下： a、任何潜在新的和独特的失效机理；b、任何应用中无显现但测试或条件可能会 ...
DSP编程 blackfin中实现的AEC算法
blackfin中实现的AEC算法，算法模块用汇编实现，供参考
加密解密 包含md5,aec,dec算法
包含md5,aec,dec算法，经过编译通过运行测试。
其他书籍 实现AEC算法的测试标准
实现AEC算法的测试标准，当然有许多测试项目仍然在更新中
技术资料 《原创》汽车级（AEC-Q200）电解电容寿命分析
《原创》汽车级（AEC-Q200）电解电容寿命分析
技术资料 汽车电子行业芯片制造规范文件 AEC-Q100
汽车电子行业芯片制造规范文件 AEC-Q100英文版, rev G
技术资料 L9945
AEC-Q100 qualified
• 12 V and 24 V battery systems compliance
• 3.3 V and 5 V logic compatible I/O
• 8-channel configurable MOSFET pre-driver
– High-side (N-channel and P-channel MOS)
– Low-side (N-channel MOS)
– H-bridge (up to 2 H-bridge)
– Peak & Hold (2 loads)
• Operating battery supply ...
手册 苏州纳芯数字隔离器选型指南
苏州纳芯微公司的数字隔离器选型手册2017 年正式推出满足 AEC-Q100 车规级标准的 NSi81xx 系列 EMC 增强型多通
道数字隔离芯片，将产品线扩展至通用 IC 领域
技术资料 ad9280_9708 ADDA模块硬件资料+PDF原理图+AD PADS CADENCE3中格式原
ad9280_9708 ADDA模块硬件资料+PDF原理图+AD、PADS、CADENCE3中格式原理图库PCB封装库文件:原理图库：Library Component Count : 41Name                Description----------------------------------------------------------------------------------------------------AD8065 ...
技术资料 S32K1xx Series Reference Manual 用户手册--2029页
S32K1xx Series Reference Manual 用户手册--2029页 Supports S32K116, S32K118, S32K142, S32K144, S32K146, and S32K148S32K是一款符合AEC-Q100规范、基于32位ARM Cortex-M4F和Cortex-M0+内核的MCU，适用于通用汽车和高可靠性工业应用。The S32K1xx product series further extends the highly scalable portfolio o ...