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STC12C5A60S2系列ADC测试结果(使用12位DA测试--4096个测试点)
2013-11-23
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基于FPGA的ADC并行测试方法研究
高性能ADC产品的出现,给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化,减少了单个ADC的平均测试时间,从而降低ADC测试成本。本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基...
2013-06-07
53