对Altera 28nm FPGA浮点DSP设计流程和性能的独立分析
电子发烧友网核心提示:Altera公司昨日宣布,在业界率先在28 nm FPGA器件上成功测试了复数高性能浮点数字信号处理(DSP)设计。独立技术分析公司Berkeley设计技术有限公司(BDTI)验证了能够在 Altera Stratix V和Arria V 28 nm FPGA开发套件上...
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小型电器设备发生跌落的情况时有发生,电器的电气性能在跌落碰撞中常发生变化而不被发现,很容易造成安全隐患。对此,结合Ansys Ls-Dyna与PSIM仿真软件,就电器跌落过程进行动力学分析,并对电器的电路部分进行仿真分析,观察电气参数的变化,为电气检验工作提出一种新的思路。 ...
VB源程序,层次分析算法.可以解决系统模糊评价的问题. 本算法结构清晰,适宜定量评价系统性能...
本测试程序是针对TMS320LF2407 EVM的性能测试而设计开发的。程序运行时将按顺序对数据RAM空间、程序代码空间、片上异步串行通讯、ADC-DAC联合检测、双向数字I/O口、通用I/O和评估板LED、评估板并排手动开关分别进行检测。测试结果的正确或错误均有信息显示。...