TCL1549AD液晶采样显示
上传时间： 2013-11-08
上传用户：非洲之星
基于FPGA多通道采样系统设计资料
上传时间： 2013-11-16
上传用户：chaisz
提出了用“过采样”技术使在有用的测量频带内的信噪比得到改善, 从而提高ADC 测量的分辨率。并利用Matlab 对其结论进行仿真, 且在TMS320L F2407 DSP 上予以实现,结果表明信噪比和测量分辨率明显提高。
上传时间： 2013-11-20
上传用户：fairy0212
叙述了基于过采样技术,使用软件方法提高单片机片内A/ D 分辨率的基本原理及实现方法。给出了一个实现示例,将C8051F040 片内12 位分辨率ADC 提高到16 位分辨率。
上传时间： 2014-01-08
上传用户：a3318966
在分析现有功率因数检测电路的基础上,提出了基于单片机电压采样的功率因数检测方法。叙述了电压采样测量功率因数的原理,设计出了以PIC16F877单片机核心的功率因数在线检测电路。并采用两种不同的负载进行了功率因数在线检测试验,通过对试验结果分析、比较可以看出该在线检测电路具有较高的精度。
上传时间： 2013-11-18
上传用户：ginani
在数字示波器技术中!常用的采样方法有两种" 实时采样和等效采样# 实时采样通常是等时间间隔的!它的最高采样频率是奈奎斯特极限频率# 等效采样$3456789:;<$8=>96;?% 是指对多个信号周期连续采样来复现一个信号波形! 采样系统能以扩展的方式复现频率大大超过奈奎斯特极限频率的信号波形&
上传时间： 2014-01-12
上传用户：yunfan1978
Luminary的ADC过采样应用笔记 本文主要介绍一种Luminary单片机高精度低成本AD转换的实现方法，解决在某些要求高精度ADC领域的Luminary应用问题。
上传时间： 2013-10-23
上传用户：hz07104032
论述了基于数字温度传感器的单片机温度测控系统。把PC机中实现减法运算的方法运用到MCU的汇编语言程序设计中，从而完成了AD7416的温度采样汇编语言程序设计。给出了温度测控系统简化电路原理图以及符合MCS—51汇编语言特点的温度采样子程序流程框图。
上传时间： 2014-12-27
上传用户：aa7821634
Luminary Micro在Stellaris系列微控制器的部分产品中提供了模数转换器（ADC）模块。ADC的硬件分辨率为10位，但由于噪音和其它使精度变小的因素的影响，实际的精度小于10位。本应用文档提供了一个基于软件的过采样技术，从而使转换结果的有效位数（ENOB）得到了改善。文档中描述了对输入信号执行过采样的方法，以及在精度和整个系统性能上的影响。
上传时间： 2014-05-07
上传用户：drink！
在使用DSP进行数字信号处理时，应用过采样技术可以增加其内置模数转换器的分辨率。讨论了应用过采样技术的原理、如何使用TMS320LF2407来实现过采样，以及在软件上的实现方法。
上传时间： 2013-11-01
上传用户：风行天下
