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逻辑测试是电子设计与开发中不可或缺的一环，专注于验证数字电路及系统功能的正确性。通过14926个精选资源，涵盖从基础到高级的各种测试技术，包括但不限于边界扫描、功能验证和故障诊断等。这些资料不仅适用于嵌入式系统、微处理器以及复杂集成电路的设计验证，还对提升产品质量、缩短研发周期具有重要意义。无论是初学者还是资深工程师，都能在这里找到宝贵的学习材料和技术支持，助力您的项目顺利推进。

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