辐照测试

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为研究强电磁脉冲对单片机系统的辐照效应,在GTEM室内进行了辐照效应实验.实验表明,单片机系统在强电磁脉冲作用下,会出现"死机”、重启动、通讯出错和数据采集误差增大等现象.在实验基础上,对单片机系统的各种效应进行了深入研究.

2024-11-11 5 辐照测试

为研究强电磁脉冲对单片机系统的辐照效应,在GTEM室内进行了辐照效应实验.实验表明,单片机系统在强电磁脉冲作用下,会出现"死机"、重启动、通讯出错和数据采集误差增大等现象.在实验基础上,对单片机系统的各种效应进行了深入研究.

2024-07-16 7 辐照测试