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辐射效应技术资料
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辐射效应是电子设备在电磁环境中性能变化的关键因素，广泛应用于航空航天、通信系统及医疗设备等领域。深入理解辐射效应有助于提高产品可靠性与安全性。本页面汇集了669份精选资源，涵盖理论分析、实验研究及防护措施等内容，为工程师提供全面的学习资料和技术支持。探索最新研究成果，掌握前沿技术，提升您的专业技能。立即访问，开启您的知识之旅！
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贴片二三极管场效应管代码查询.rar
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基于ARM的TimeToCount辐射测量仪的研究
随着半导体工艺的飞速发展和芯片设计水平的不断进步，ARM微处理器的性能得到大幅度地提高，同时其芯片的价格也在不断下降，嵌入式系统以其独有的优势，己经广泛地渗透到科学研究和日常生活的各个方面。 本文以ARM7 LPC2132处理器为核心，结合盖革一弥勒计数管对Time-To-Count辐射测量方法进行...
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