证卡系统
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证卡系统 热门资料
查看全部 500 份 →电子系统热管理设计与验证中的结温估算与测量
针对电子系统容易出现的热失效问题，论述在电子系统的热管理设计与验证中，对半导体器件结温的估算和测量方法。通过测量半导体器件内部二极管参数，来绘制二极管正向压降与其温度关系曲线，进而求解出器件的结温估算值，以指导热管理设计；采用热分布测量和极...
2013-11-10
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2017-01-19
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