芯片测试,设计初期系统级芯片测试。SoC的基础是深亚微米工艺,因此,对Soc器件的测试需要采用全新的方法。由于每个功能元件都有其自身的测试要求,设计工程师必须在设计初期就做出测试规划。
时钟芯片1302 用LPC21xx例程(已调试过)
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LF2407A上的外扩SRAM芯片的调试程序,需要CCS软件开发平台
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基于linux嵌入式系统,芯片为AC48x的DSP驱动源码以及测试程序
这是一个关于LPC2468芯片的IAR环境下的按键测试例程源代码,有需要的下
LGPD4511液晶驱动芯片的驱动和测试代码,可以移植到其他平台
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