芯片测试
芯片测试,设计初期系统级芯片测试。SoC的基础是深亚微米工艺,因此,对Soc器件的测试需要采用全新的方法。由于每个功能元件都有其自身的测试要求,设计工程师必须在设计初期就做出测试规划。
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查看全部 500 份 →利用ATmega64实现了对测温芯片DS18B20
利用ATmega64实现了对测温芯片DS18B20,实时芯片DS1302,RT1602的读写控制,构成了一个实时温度测量与记录系统,由串口发送测温数据到PC。
2014-01-10
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锂电池电量检测芯片ds2786驱动程序(参照linux/driver/power/ds2760_battery.c).在linux-2.6.24内核测试通过.
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2017-05-12
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