脉冲测试

脉冲测试是一种能够减少器件总能耗的测量技术。它通过减少焦耳热效应(例如I2R和V2/R),避免对小型纳米器件可能造成的损坏。脉冲测试采用足够高的电源对待测器件(DUT)施加间隔很短的脉冲,产生高品质的可测信号,然后去掉信号源。

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基于PIC单片机的脉冲电源:设计了一种金属凝固过程用脉冲电源。该电源采用PIC16F877作为主控芯片,实现对窄脉冲电流幅值的检测,以及时电流脉冲幅值根据模糊PID算法进行闲环控制。使用结果表明:该电源的输出脉冲波形良好,电流幅值稳定,满足...

2013-10-27 100 脉冲测试

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2013-05-18 126 脉冲测试