老化试验
共 10 篇文章
老化试验 相关的电子技术资料，包括技术文档、应用笔记、电路设计、代码示例等，共 10 篇文章，持续更新中。
LED高低温试验箱及老化测试标准
LED高低温试验箱及老化测试标准 讲了四个方面：
一、LED灯老化检测标准参考
二、高低温试验箱技术规格
三、高低温冲击试验箱技术规格
四、高温老化试验箱技术规格
上电绝缘系统少胶VPI线圈电老化试验研究
·上电绝缘系统少胶VPI线圈电老化试验研究
基于连续高压脉冲方波的绝缘老化试验系统
·基于连续高压脉冲方波的绝缘老化试验系统
大中型泵站电机电老化试验鉴定分析
·大中型泵站电机电老化试验鉴定分析
一款USBkey用MCU电路早期失效问题初探
我公司生产的 USBkey 产品所使用的MCU 电路，自2007 年9 月初USBkey 产品开始<BR>量产化后，我们对其部分产品做了电老化试验，发现该款电路早期失效问题达不到我们要求，上电以后一段时间内失效率为千分之一点五左右。为此，我们从去年10 月到今年2 月对所生产的产品（已发出的除外）全部进行了电老化筛选，通过这项工作发现了一些规律性的东西，对提高电子产品的安全可靠性有一定指导意义。<
GB 4677.14-1988 印制板蒸汽-氧气加速老化试验方法.pdf
国标类相关专辑 313册 701M<br/>GB 4677.14-1988 印制板蒸汽-氧气加速老化试验方法.pdf
采用CYGNAL F015单片机
采用CYGNAL F015单片机，用于一个电池老化试验柜（即循环充放电）的实用程序，实现了SMBUS总线通信协议。
基于Keil uVision2平台的C51控制温度老化试验箱的源代码。 1、温度传感器采集温度 2、传感器信号传入 ADC电路 3、经AT89C52单片机的处理分析输出控制 4、通过继电器控制
基于Keil uVision2平台的C51控制温度老化试验箱的源代码。
1、温度传感器采集温度
2、传感器信号传入 ADC电路
3、经AT89C52单片机的处理分析输出控制
4、通过继电器控制发热、降温与通风单元
Xilinx FPGA集成电路的动态老化试验
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<strong>3 FPGA设计流程</strong></p>
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完整的FPGA 设计流程包括逻辑电路设计输入、功能仿真、综合及时序分析、实现、加载配置、调试。FPGA 配置就是将特定的应用程序设计按FPGA设计流程转化为数据位流加载到FPGA 的内部存储器中，实现特定逻辑功能的过程。由于FPGA 电路的内部存储器都是基于RAM 工艺的，所以当FPGA电路电源掉电后，内部
GB 4677.14-1988 印制板蒸汽-氧气加速老化试验方法
GB 4677.14-1988 印制板蒸汽-氧气加速老化试验方法