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查看全部 500 份 →半导体激光二极管组件测试方法 YD/T 701-93
半导体激光二极管组件测试方法的主要内容：本标 准 参 照采用国际电工委员会(IEC)所制订的标准IEC 747-5-1984《半导体器件分立器件第 5部分:光电子器件》中的有关规定。
2024-05-16
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基于DSP的控制分组件测试系统的硬件设计
· 摘要： 主要介绍了一种基于TMS320F206 DSP和CPLD的专用数字信号通信及信号调理板的设计及实现,利用DSP和CPLD实现对信号及存储器及信号的控制.实践表明,该方案速度快,可靠性高,满足实用性及有效性....
2024-07-29
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