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约束随机验证是现代电子设计自动化（EDA）领域中的关键技术之一，通过智能生成测试向量来高效检测电路设计中的潜在错误。它广泛应用于集成电路验证、SoC系统级验证等场景，极大提升了验证覆盖率与效率。掌握此技术不仅能够帮助工程师快速定位并修复设计缺陷，还能显著缩短产品上市时间。本页面汇集了5487份精选资源，涵盖从基础理论到高级应用的全方位内容，是每位追求卓越验证技能的专业人士不可或缺的学习宝库。

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