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约束随机验证是现代电子设计自动化（EDA）中不可或缺的技术，通过设定参数范围内的随机测试向量生成，极大提高了复杂电路和系统级芯片（SoC）的验证覆盖率与效率。广泛应用于数字逻辑设计、嵌入式系统开发等领域，对于确保产品功能正确性及提升上市速度具有重要意义。本页面汇集了5487份精选资源，包括教程、案例分析及工具使用指南等，旨在帮助工程师深入理解并掌握这一高效验证方法，加速项目进程。

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