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三级偏硬,是一个不错的三级偏硬教材 希望对大家有用...
伴随着微电子工艺技术的飞速发展和集成电路规模的不断提高,现场可编程门阵列(FPGA)器件的功能更强,复杂度进一步提高,而计算机辅助工具的不断更新使得FPGA器件的设计周期缩短,但却使测试难度增大了,进而导致测试费用和测试时间的增加。如今测试费用达到总开发成本的40%左右。如何有效的对FPGA器件进行...
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TPC硬判决译码改进算法的研究及其FPGA实现...