电子显微镜
共 11 篇文章
电子显微镜 相关的电子技术资料，包括技术文档、应用笔记、电路设计、代码示例等，共 11 篇文章，持续更新中。
针对样品视频的H．264空域SVC快速模式决策算法
·摘 要:在电子显微镜等大型科学仪器样品图像远程实时传输中，为了解决其网络适应性问题，采用IPPP结构的H．264空域SVC压缩样品视频。针对SVC模式决策的高计算复杂度问题，提出了一种快速模式决策算法。该算法精简了预测模式，并将其划分为不同的模式集，针对各模式集设计了自适应提前退出阈值及阈值比较策略，以尽快结束模式决策。对不同仪器样品视频的测试表明，该算法与参考算法相比，在PSNR和比特率保持相
氧化还原法制备NiO纳米棒一维材料的研究
<P>由NiCl2、NaBH4等组成的微乳液体系发生氧化还原反应制备NiO纳米棒前驱物，在熔融盐环境中860℃焙烧2.5h前驱体发生氧化反应，成功地制备了NiO纳米棒，用透射电子显微镜、X射线衍射对N
压痕诱发GaAs单晶的塑性变形
<P>利用透射电子显微镜对压痕诱发GaAs中的塑性变形结构进行了研究。结果表明，压痕周围产生了由长臂位错和短臂位错组成的非均匀分布的玫瑰型位错组态和二次对称分布的孪晶结构。利用电子衍射技术对位错类型进
Ti（Ta）O2薄膜的表面形貌对血管内皮细胞生长量影响的研究
<P>采用磁控溅射合成不同Ta含量的系列Ti(Ta)O2薄膜。利用扫描电子显微镜（SEM）、原子力显微镜（AFM）对薄膜的表面形貌进行表征。并对薄膜表面进行人脐静脉内皮细胞（HUVEC）种植试验以评价
基于FPGA技术的扫描电镜用图像采集系统设计.rar
扫描电子显微镜（SEM）是观察和分析微观物质形貌和特性的重要工具，它广泛应用于物理、化学、地质、电子工业和生物科学。在目前使用的SEM 中，有大量SEM 由于生产年代较早，未配备图像采集功能，无法与广泛应用的PC 机连接，且不能实现电子版图像的存储、后期处理，难于提供高质量的图像进行其他用途的分析、利用。 本文提出了一种基于FPGA（现场可编程门阵列）技术的图像采集系统设计方案，用于升级老型号SE
可编程工业电子显微镜平台的开发
<p>设计了一款高精度可编程工业电子显微镜平台,其具有X、Y、Z三个自由度,由步进电机驱动,以STC89C52为核心控制器件。该平台可以通过USB口或串口与上位机通讯,具有30个点的坐标存储功能和自动寻位功能,利用设计好的指令集上位机可以控制下位机运行的位置和速度。该平台具有良好的扩展性,既可以满足实际检测运行精度需求,又具有较低的成本。</p><p>In this article,a high-
半导体芯片失效分析
<p>从典型的表面贴装工厂的实践来看，半导体失效原因主要分为与材料有关的失效、与工艺有关的失效，以及电学失效。通常与材料和工艺有关的失效发生的较为频繁，而且失效率很高，但是占有90%以上的失效并不是真正的失效，有经验的工艺工程师和失效分析工程师可以通过 射线焊点检测仪、扫描电子显微镜、能量分散谱、于同批产品交叉试验就可以确定失效与否，从而找到真正的原因。本文基于摩托罗拉汽车电子厂的实践简要介绍前两
GaN基LED材料特性研究及芯片结构设计
<p>本文在介绍了氮化嫁材料的基本结构特征及物理化学特性之后，从氮化擦的外延结构的属性和氮化擦基高性能芯片设计两个方面对氮化家材料和器件结构展开了讨论。其中材料属性部分，介绍了透射电子显微镜的工作原理及其主要应用范围，然后根据实验分析了TEM图片，包括GaN多量子阱，重点分析了V型缺陷和块状缺陷的高分辨图形，分析了他们对材料属性的影响。然后分析了多种氮化擦样品的光致发光谱和电致发光谱，并解释其光谱
IGBT失效分析技术
<p>近年来，对器件的失效分析已经成为电力电子领域中一个研究热点。本论文基于现代电力电子装置中应用最广的IGBT器件，利用静态测试仪3716，SEM（Scanning Electrom Microscope，扫描电子显微镜）、EDX（Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy、能量色散x射线光谱仪）、FIB（Focused lon beam，聚焦高子束）切割、TEM（
按键控制步进电机正反转
按键控制步进电机正反转，此为电子显微镜载物台三维控制设计
AVR单片机技术原理
<P><STRONG>AVR单片机技术原理</STRONG></P>
<P>AVR单片机介绍</P>
<P> 单片机又称单片微控制器，它是把一个计算机系统集成到一个芯片上，概括的讲：一块芯片就成了一台计算机。单片机技术是计算机技术的一个分支,是简易机器人的核心元件。<BR> 1997年,由ATMEL公司挪威设计中心的A先生与V先生利用ATMEL公司的Flash新技术, 共同研发出RISC精简指