测试生成

在集成电路内建自测试的过程中，电路的测试功耗通常显著高于正常模式产生的功耗，因此低功耗内建自测试技术已成为当前的一个研究热点。为了减少被测电路内部节点的开关翻转活动率，研究了一种随机单输入跳变（Random Single Input Cha...

2013-10-08 69 测试生成

主要用于大规模的测试生成方法，执行效率比较高的。

2014-09-09 171 测试生成

使用UML生成场景测试用例，有利于测试者设计测试用例。使用UML的类图、状态图和顺序图来说明DHCP实例的场景测试用例的生成方法，讨论基于UML顺序图生成场景测试用例的方法，从找出场景到生成测试用例，

2024-03-29 9 测试生成

2017-08-10 140 测试生成

2016-05-12 84 测试生成

使用STM32CubeMx生成的SD卡驱动代码工程，已经使用开发板测试通过。

2022-11-26 2 测试生成

C#基础教程-生成及调试程序-生成设置及调试

2022-02-27 3 测试生成

从 Mentor Graphics 的自动测试图形生成（ATPG）工具 FastScan的测试文档中提取出测试电路（CUT）的测试模式，生成便于对应压缩算法的文件格式。本文中，给出了 2 种压缩测试模式的方法，一种是基于统计的...

2017-08-17 148 测试生成

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