浮点FFI
浮点FFI，的VHDL实现及HDL功能测试方法的研究 附录B加法处理器测试平台代码 附录CFFT处理器的测试平台代码...
测试点布局技术资料
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测试点布局是电子设计中不可或缺的一环，直接影响到电路板的可测试性和维护效率。通过合理规划测试点，可以显著提高故障诊断速度与准确性，广泛应用于消费电子、汽车电子及工业控制等领域。本页面汇集了18596份精选资源，涵盖从基础理论到高级实践技巧，帮助工程师掌握高效布局策略，提升产品可靠性。立即访问，获取最新资料，优化您的设计方案！
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（1）测试外部数据RAM： 根据我们定义的逻辑，外部RAM在数据空间中定义在0x8000－0xFFFF，共32k字，占据RAM中的低32K存储空间。提供2种测试方法，采用一种方式即可。 硬件仿真模式下，将目标板上电。 第一种方法：采用用程序测试实验 程序所在目录ex1_RAMTes...
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已经上传的YF-320240-3.5寸彩屏（可由单片机控制）的测试程序。主CPU为MEGA128，里面有画点、线、矩形、显示字符、汉字的函数。...
仿真ic测试的程序
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惩罚函数中的外点约束方法
惩罚函数中的外点约束方法，通过VC++2005测试...
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