测试架构

随着基于SRAM的FPGA的集成度的提高，使得能够在较短的开发周期内实现复杂的电路。但是在对安全性有严格要求的应用领域，如航空，航天，基于SRAM的FPGA不能保证足够可靠。主要障碍在于在这种环境下面，FPGA对于辐射很敏感。国内外有很多关...

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ADS1.2下测试。128*64位LCD测试，基于S3C44B0X开发板平台。

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掌握2600系列数字源表在IDDQ测试和待机电流测试中的应用方法，提升电路故障诊断效率。通过实际案例学习如何精准测量静态电流，优化测试流程。

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