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学术论文  基于FPGA的电路板光板测试机硬件设计与样机研制

　　本文提出一种基于PC104嵌入式工业控制计算机与现场可编程门阵列(FPGA)的PCB测试机的硬件控制系统设计方案。方案中设计高效高压控制电路，实现测试电压与测试电流的精确数字控制。选用双高压电子开关形式代替高压模拟电子开关，大幅度提高测试电压。采用多电源方式在低控制电压下实现对高压电子开关的控制。设计高速信号 ...

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软件设计/软件工程  PIC 16F系列制作的空调控制器测试机

PIC 16F系列制作的空调控制器测试机

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数据结构  程序测试机

程序测试机，就是专门用来测试OI竞赛的数据的，省去一个个数据的手功测试的麻烦。只要输入相应的资料便可，程序执行完后会有列表清单，告诉你对了哪些题。

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单片机开发  主机板测试机的液晶显示程序；运行平台STC89C516；开发软件为KEIL 目标器件为19264

主机板测试机的液晶显示程序；运行平台STC89C516；开发软件为KEIL 目标器件为19264

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其他  IC 测试用verigy v50 测试机程式范例

IC 测试用verigy v50 测试机程式范例，对BL801 IC作应用测试。

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技术资料  测试机V50资料

介绍了测试机V50的调机参数，介绍了测试原理

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技术资料  基于FPGA的反应时间测试机verilog HDL实验

基于FPGA的反应时间测试机verilog HDL实验，适合感兴趣的学习者学习，可以提高自己的能力，大家可以多交流哈

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学术论文  基于FPGA的ADC并行测试方法研究.rar

高性能ADC产品的出现，给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化，减少了单个ADC的平均测试时间，从而降低ADC测试成本。本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上，总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实现时域参数评估算法和频域参数 ...

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学术论文  基于FPGA的ADC并行测试方法研究

高性能ADC产品的出现，给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化，减少了单个ADC的平均测试时间，从而降低ADC测试成本。本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上，总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实现时域参数评估算法和频域参数 ...

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测试测量  ic测试程序-TQT510

关于TQT510测试机的程序，TM512芯片FT测试程序。。。。

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