测试技术

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在集成电路内建自测试的过程中，电路的测试功耗通常显著高于正常模式产生的功耗，因此低功耗内建自测试技术已成为当前的一个研究热点。为了减少被测电路内部节点的开关翻转活动率，研究了一种随机单输入跳变（Random Single Input Cha...

2013-10-08 69 测试技术

测试的目的决定了如何去组织测试。如果测试的目的是为了尽可能多地找出错误，那么测试就应该直接针对设计比较复杂的部分或是以前出错比较多的位置。如果测试目的是为了给最终用户提供具有一定可信度的质量评价，那么测试就应该直接针对在实际应用中会经常用到...

2013-07-03 72 测试技术