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TI EVMDM355 开发板的测试程序,包括BOOT,DDR2,NAND,SD,UART,GPIO等芯片外设的测试驱动.
2016-04-30
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计量测试技术的发展
本文从技术角度出发,围绕发展动力、检测手段和发展趋势三方面阐述了关于计量测试技术的发展问题。关键词:计量测试技术;发展;现代控制技术;传感器;网络化测量和控制
2023-11-28
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