随着FPGA(FieldProgrammableGateArray)器件的应用越来越广泛且重要，FPGA的测试技术也得到了广泛重视和研究。基于FPGA可编程的特性，应用独立的测试(工厂测试)需要设计数个测试编程和测试向量来完成FPGA的测试，确保芯片在任何用户可能的编程下都可靠工作。 本论文正是针对上述问题，以XilinxXC4000E系列FPGA为主要的研究对象，在详细研究FPGA内部结构的基础上，基于“分治法”的基本思路对FPGA的测试理论和方法做了探索性研究。 研究完成了对可编程逻辑模块(ConfigrableLogicBlock)及其子模块的测试。主要基于“分治法”对CLB及其子模块进位逻辑(CLM)、查找表(LUT)的RAM工作模式等进行了测试划分，分别实现了以“一维阵列”为基础的测试配置和测试向量，以较少了测试编程次数完成了所有CLB资源的测试。 研究完成了对互连资源(ConfigrableInterconnectResource)的测试。基于普通数据总线的测试方法，针对互连资源主要由线段和NMOS开关管组成的特点及其自身的故障模型，通过手工连线实现测试配置，仅通过4次编程就实现了对其完全测试。 在测试理论研究的基础上，我们开发了能对FPGA器件进行实际测试的测试平台。基于硬件仿真器的测试平台通过高速光纤连接工作站上的EDA仿真软件，把软件语言描述的测试波形通过硬件仿真器转化为真实测试激励，测试响应再读回到仿真软件进行观察，能够灵活、快速的完成FPGA器件的配置和测试。该平台在国内首次实现了软硬件协同在线测试FPGA。在该平台支持下，我们成功完成了对各军、民用型号FPGA的测试任务。 本研究成果为国内自主研发FPGA器件提供了有力保障，具有重大科研与实践价值，成功解决了国外公司在FPGA测试技术上的垄断问题，帮助国产FPGA器件实现完全国产化。
上传时间： 2013-05-17
上传用户：wangyi39
本文首先介绍了主流8位MCU(微控制器)的通用架构，通过比较分析主流国际MCU半导体供应商的MCU产品，结合作者在德国英飞凌公司的项目实践，分析了英飞凌XC866系列8位MCU的架构特点和功能特性。在此基础上，介绍了该MCU芯片的系统集成方法，以及组成模块的架构和功能。 LlN协议是当前广泛应用的车载局部互连协议，作为英飞凌XC866MCU上很关键的一个外围IP，本论文在介绍了MCU架构基础上，设计实现了LlN控制器。LIN协议是UART在数据链路层上的扩展，其关键是LlN协议数据链路层的检测实现。本文给出了一种可靠，高效的协议检测机制，从而使软件和硬件更好配合工作完成协议检测。在完成LlN控制器设计后，本文结合了XC866ADC的架构，介绍了ADC模拟和系统的数字接口概念和实现要点，介绍了如何考虑分析选择合理的数字接口方案。论文最后以XC866的系统架构为基础，提出了一种高效的基于FPGA的IP原型验证平台方案，并以LlN控制器作为验证这一平台的IP，在FPGA上成功的实现了验证方案。论文同时介绍了从SOC设计向FPGA原型验证转换时的处理方法及工程经验，介绍了MCU及验证平台的测试平台思想，以及基于FPGA原型和逻辑分析仪实时测试的MCU固件代码覆盖率测试方法。 目前8位MCU在中低端的应用越来越广泛，特别是目前发展迅速的汽车电子和消费电子领域。因此对MCU架构的不断研究和提高，对更多面向应用领域的IP的研究和设计，以及如何更快速的实现芯片验证将极大的推动MCU在各个领域的应用和推广，将产生极大的经济和应用价值。
上传时间： 2013-07-14
上传用户：李梦晗
针对实验室小型天线工程测试的需要，根据天线方向图测试原理，设计开发了天线方向图自动测试系统。该系统以MSP430单片机为核心，由自动控制模块、信号采集存储模块和数据处理显示模块三部分组成。从实验结果来看，该系统能够实现转台的自动控制、信号的自动录取、方向图的自动绘制，测试平台搭建方便，具有精度高、测试速度快、性能稳定的特点。
上传时间： 2013-10-17
上传用户：开怀常笑
为满足高温蓝宝石光纤温度传感器的标定和测试需要，分析了传感器的测量结构和标定原理，设计了一套基于氧乙炔高温综合测试平台和上位机测试应用软件的标定测试系统。试验结果表明，该系统能够实现传感器在多温度下的标定，并能模拟真实测温方式进行测试试验，具有较好的可靠性和稳定性。
上传时间： 2013-10-10
上传用户：linlin
LTE基站误码率测试是基站射频测试中最为关键的测试项目之一，提出一种快速、高效的测试方法和测试架构。该方案采用基站射频板作为数据采集卡、完成上行链路的解调和模拟信号转换成I/Q数据功能，利用ADS、MATLAB搭建上行信道的同步、解码功能。测试表明该方案的测试精度达到 0.2dB，完全满足研发和生产中测试上行相关射频指标的功能需求， 同时本设计还具有开发周期短、投资成本低，操作简便、很强的跨系统移植能力。
上传时间： 2013-11-17
上传用户：xhwst
这是我学习过程中编写的测试代码，用STD2.51开发环境，C语言编写，以MICETEK EV44B0－II开发板为硬件测试平台，用到串口，液晶，键盘，LED。 液晶包括图片显示、划线、ASCII码显示、4000多常用的汉字库，可以显示任意常用的汉字。 键盘采用中断触发！
上传时间： 2015-08-04
上传用户：561596
122*32STN屏幕测试，使用51的测试平台
上传时间： 2017-01-04
上传用户：佳期如梦
笔段型TN LCM测试，使用51测试平台就可以了，很简单
上传时间： 2017-01-04
上传用户：wxhwjf
点阵STN LCM测试，使用51测试平台就可以了，很简单
上传时间： 2014-08-23
上传用户：杜莹12345
测试STN类型LCM，使用51测试平台测试，接口自己搞定就可以了
上传时间： 2013-11-28
上传用户：jhksyghr
