这是s3cev40开发板光盘自带的存储器测试实验源码
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vxworks\S3C44B0开发板有关\cedn开发板资料\VxWorks实验代码 cf测试实验...
vxworks\S3C44B0开发板有关\cedn开发板资料\VxWorks实验代码 ps2测试实验...
vxworks\S3C44B0开发板有关\cedn开发板资料\VxWorks实验代码 串口测试实验...
摘 要: 本文件是C8051单片机AD测试实验;使用外部22.1184MHz晶振,将跳线器JP3短接 功能:采样AIN0,1和温度通道信号,并在LCD上显示其电压和温度值,也可以应用Uart0显示其...
摘 要: 本文件是C8051单片机DA测试实验程序;使用外部22.1184MHz晶振. 功能:定义 A ~ F 为功能键。 按"A" 键,输出250HZ的方波,按"B" 键,输出250HZ的正弦...
摘 要: 本文件是C8051单片机FLASH读写测试实验;使用外部22.1184MHz晶振. 利用PC机控制FLASH读写 文件, 擦除芯片等功能。使用外部22.1184MHz晶振。必须使用光...
摘 要: 本文件是C8051单片机字库(GB2312)测试实验程序;使用外部22.1184MHz晶振. 功能:定义 0 ~ 3 、 A 、 F 为功能键。按"A" 键显示输入位码界面,按 0 ...
摘 要: 本文件是C8051单片机字库(GB2312)测试实验程序;使用外部22.1184MHz晶振. 调用Flash字库,不用区位码连续写汉字....
7 段数码管实验(包括两个实验) 7段数码管测试实验1:以动态扫描方式在8位数码管“同时”显示0—7,...