材料
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查看全部 500 份 →基于太赫兹时域光谱的半导体材料参数测量
提出了一个考虑ＦＰ 效应的半导体材料参数测量方案。利用该方案可以在时域波形中，截取多个反射回峰，以提高材料参数提取的精确度。另外，考虑到多重反射对样品厚度的准确性要求较高，提出了一种有效的厚度优化方法。以ＧａＡｓ 为待测样品，利用上述方法...
2013-12-16
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基于ARM的材料试验机测试系统的研究与开发
材料试验机是测定材料机械性能的基本设备之一，应用范围广泛。它主要由机械、加载及测试等系统组成，其中测试系统是试验机不可缺少的组成部分，它对试验机的性能又起着决定性作用。随着实验科学的发展、科技的进步以及应用需求的增加，旧有的测试系统已逐渐不...
2013-04-24
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