晶体测量
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晶体测量 热门资料
查看全部 500 份 →晶体管参数测试仪的设计
以LM3S1138芯片作为控制核心，设计了一个晶体管参数测试系统。该系统主要功能模块包括：恒流源阶梯信号、电压扫描信号、升压电路、保护电路等。利用8位D/A转换器产生稳定的控制电压，通过集成在LM3S1138芯片中的10位A/D模块完成电压...
2013-10-23
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一种非接触测量体温计
本文设计了一种非接触测量体温计。该体温计利用GE公司的红外热电堆温度传感器ZTP-101L实现对温度信号的非接触测量。微弱的电压信号放大采用低失调、低漂移、高精度的集成仪用运算放大器AD620。模数转换用自带ADC的16位单片机MSP430...
2022-08-20
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