ST7529的汇编测试程序，内部含有汉字和图形显示的子程序，由于此IC带有32级灰度，编程相对比较麻烦，我也是花了很多时间才把程序写好，具体的多看看ST7529的规格书，可以驱动STN240160点阵的单颗COG。
上传时间： 2016-12-14
上传用户：zhyiroy
I2C程序函数是采用软件延时的方法产生SCL脉冲,对高晶振频率要作一定的修改 C％NG\#A1e0(本例是3us机器周期,如果系统对时间要求不是很重要的话,最好在每个单元读写结束时加个延时， $`Z(U n+b0T m0测试有子地址器件函数，未测试无地址的器件，适合器件地址和子地址小于256的器件， 大于256的单元的器件可以自己改写)。 t d ` U4A!~,L C0
上传时间： 2017-01-01
上传用户：wmwai1314
可以测试人的视觉暂留特性，灯闪烁的频率慢慢变快，当看不清闪烁的时候，按下按键，LED显示人眼的暂留时间
标签： 测试
上传时间： 2014-01-25
上传用户：Ants
//PWM 调制程序 C51 2008-4-2 18:24:00 /*pwm 调制程序*/ /*说明： key用来控制 脉宽的高电平时间， 可以在P2.0引脚 接一个led做测试*/
上传时间： 2014-01-22
上传用户：ouyangtongze
本书内容提挈： ·通过基于组件的开发技术有效减少开发时间和成本 ·为可管理性、可靠性、灵活性和可移植性设计组件 ·使用最新的．NET技术调试应用程序 ·创建和定制可复用的Web Browser组件 ·开发、测试和安装Web服务和Windows服务 ·通过身份验证和授权确保Web应用程序安全 ·创建ADO．NET体系结构的后端组件 ·实现和管理多线程组件 ·创建与COM互操作的组件
上传时间： 2017-03-19
上传用户：zhengzg
这是我测试pcf8563的程序，可以试验时间芯片是否正常。
上传时间： 2014-11-28
上传用户：chenjjer
本程序通过AM-51H学习板测试，可在1602A上显示温度，时间，并调节时间。
上传时间： 2014-01-12
上传用户：叶山豪
（1）测试外部数据RAM： 根据我们定义的逻辑，外部RAM在数据空间中定义在0x8000－0xFFFF，共32k字，占据RAM中的低32K存储空间。提供2种测试方法，采用一种方式即可。 硬件仿真模式下，将目标板上电。 第一种方法：采用用程序测试实验 程序所在目录ex1_RAMTest。 该程序执行的功能是对外部数据RAM区0x8000－0xFFFF,从0x8000开始写并且读数据0x5555 。如果正常则写读下一个地址，直到 。如果正常则所有的地址操作完毕后，核心板的指示灯会变亮。否则，如果写入数据后，读出的不正确，则指示灯会不断闪烁。 在CCS2000中的操作如下： 1. Progect->Open,打开该目录中的工程文件。 2. Progect->Rebuild All,编译链接 3. File->Program 4. Debug->Go Main 5. Debug->RUN(快捷键F5) 如果正常可以看到灯在熄灭约4秒后变亮。（说明：对整个数据RAM区的操作时间其实很短，为便于观察，本程序中加入了延时）。 打开View->Memory ，然后填入地址0x8000,然后在PAGE栏选择DATA。点击确定，即可显示0x8000地址开始的数据，用户会发现从这个地址开始往后的数据均为刚被写入的0x5555。
上传时间： 2013-12-08
上传用户：www240697738
易于操作的快速自动测试系统带有USB接口。在测试产品应用中，使用480Mbps的USB数据传输速率可缩短测试时间。在产品研发时，USB的易用性使工程师能够快速搭建一个测试系统，并很快得到其频率或温度特性。本文给出了在自动测试中使用USB的优点、用USB实现与测试测量设备通讯的可能方法及一些USB的设计指南。
上传时间： 2014-11-23
上传用户：410805624
J2EE Tester 测试器是一款用于测试发布于服务器端（如Weblogic, Websphere）的 EJB组件、Servlet以及 Beans的黑盒/白盒智能化测试工具。它的功能主要有以下三点： 1. 自动生成被测试类的覆盖度测试报告，生成相应的dmp文件。 2. 自动生成被测试类的出错报告，记录抛错的行数，出错类型,方法名称，时间以及该行的代码。 3. 按照需要在发生错误的行产生断点，让测试者查看此时各个变量的状态。
标签： Websphere Weblogic Servlet Tester
上传时间： 2017-06-01
上传用户：franktu
