时序测试

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时序电路测试生成算法产生的向量存在冗余。针对此问题提出一种压缩算法，减少测试序列的总长度，从而减少了仿真的时间和ATE 设备的测试的时间，加速了测试的流程。实验结果表明，这种方法实现了较高的压缩效率，

2024-01-19 8 时序测试