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边扫描测试是在20世纪80年代中期做为解决PCB物理访问问题的JTAG接口发展起来的，这样的问题是新的封装技术导致电路板装配日益拥挤所产生的。边界扫描在芯片级层次上嵌入测试电路，以形成全面的电路板级测试协议。
2024-05-24
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扫描信号从C3 ～C0送入,信号依序为1000 ->0100 ->0010 -> 0001->1000 循环,当扫描信号为1000时,则扫描第0行中的四个按键. 扫描信号为01
扫描信号从C3 ～C0送入,信号依序为1000 ->0100 ->0010 -> 0001->1000 循环,当扫描信号为1000时,则扫描第0行中的四个按键. 扫描信号为0100时,则扫描第1行中的四个按键, 以此...
2014-01-18
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