虫虫首页| 资源下载| 资源专辑| 精品软件
登录| 注册

操作测试

  • SJF2440 XP下对并口IO端口操作的驱动

    SJF2440 XP下对并口IO端口操作的驱动,包含源码和测试程序

    标签: 2440 SJF IO端口 并口

    上传时间: 2014-01-23

    上传用户:bruce5996

  • 测试型号为EP2C5Q208C8的FPGA的RAM是否正常

    测试型号为EP2C5Q208C8的FPGA的RAM是否正常,按提示操作,并显示每步的测试结果

    标签: 208C Q208 FPGA 208

    上传时间: 2014-01-19

    上传用户:jcljkh

  • (1)测试外部数据RAM: 根据我们定义的逻辑

    (1)测试外部数据RAM: 根据我们定义的逻辑,外部RAM在数据空间中定义在0x8000-0xFFFF,共32k字,占据RAM中的低32K存储空间。提供2种测试方法,采用一种方式即可。 硬件仿真模式下,将目标板上电。 第一种方法:采用用程序测试实验 程序所在目录ex1_RAMTest。 该程序执行的功能是对外部数据RAM区0x8000-0xFFFF,从0x8000开始写并且读数据0x5555 。如果正常则写读下一个地址,直到 。如果正常则所有的地址操作完毕后,核心板的指示灯会变亮。否则,如果写入数据后,读出的不正确,则指示灯会不断闪烁。 在CCS2000中的操作如下: 1. Progect->Open,打开该目录中的工程文件。 2. Progect->Rebuild All,编译链接 3. File->Program 4. Debug->Go Main 5. Debug->RUN(快捷键F5) 如果正常可以看到灯在熄灭约4秒后变亮。(说明:对整个数据RAM区的操作时间其实很短,为便于观察,本程序中加入了延时)。 打开View->Memory ,然后填入地址0x8000,然后在PAGE栏选择DATA。点击确定,即可显示0x8000地址开始的数据,用户会发现从这个地址开始往后的数据均为刚被写入的0x5555。

    标签: RAM 测试 数据 定义

    上传时间: 2013-12-08

    上传用户:www240697738

  • 数据结构是计算机学科的一门核心课程。数据结构课程的 任务是讨论现实世界中数据的各种逻辑结构、在计算机中的存 储结构以及实现各种操作的算法等问题。掌握如何组织数据、 如何存储数据和如何处理数据的基

    数据结构是计算机学科的一门核心课程。数据结构课程的 任务是讨论现实世界中数据的各种逻辑结构、在计算机中的存 储结构以及实现各种操作的算法等问题。掌握如何组织数据、 如何存储数据和如何处理数据的基本方法,从而更好地进行软 件开发和应用。 典型数据结构包括表、堆栈、队列、数组、串、树、二叉 树、图、递归程序设计、排序和查找方法,介绍的典型存储结 构包括顺序存储结构、链式存储结构以及这两种典型存储结构 的结合。本速查器采用C语言作为算法描述语言,所有算法和 设计例子均在计算机上测试通过。本速查器对各种数据结构的 概念讨论和实际例子相结合,实际设计例子典型且完整。 尽管本软件在制作过程中非常认真和努力,但错误和不足 之处仍在所难免,敬请用者批评指正。 谢谢使用!

    标签: 数据结构 数据 操作 存储数据

    上传时间: 2013-12-22

    上传用户:kelimu

  • al808的一个控制温度测试程序

    al808的一个控制温度测试程序,设定仪表地址,发送操作值,返回值。

    标签: 808 al 控制温度 测试程序

    上传时间: 2017-05-11

    上传用户:it男一枚

  • 12864液晶显示器串行操作程序

    12864液晶显示器串行操作程序,是UV2工程文件。经本人测试通过。

    标签: 12864 液晶显示器 串行 操作

    上传时间: 2017-05-24

    上传用户:lmeeworm

  • DAO操作Access数据库类

    DAO操作Access数据库类,提供测试程序

    标签: Access DAO 操作 数据库

    上传时间: 2014-12-08

    上传用户:as275944189

  • c#多线程池的操作实例

    c#多线程池的操作实例,绝对好使!已经经过 测试了!

    标签: 多线程 操作

    上传时间: 2017-06-30

    上传用户:515414293

  • 实现了对SD卡的SPI方式下读写操作

    实现了对SD卡的SPI方式下读写操作,已经测试了,可以直接用

    标签: SPI SD卡 方式 读写操作

    上传时间: 2013-12-25

    上传用户:hustfanenze

  • 从 Mentor Graphics 的自动测试图形生成(ATPG)工具 FastScan的 测试文档中提取出测试电路(CUT)的测试模式

    从 Mentor Graphics 的自动测试图形生成(ATPG)工具 FastScan的 测试文档中提取出测试电路(CUT)的测试模式,生成便于对应压缩算法的文件 格式。 本文中, 给出了 2 种压缩测试模式的方法, 一种是基于统计的哈夫曼编码, 一种是基于差分运算的Golomb 编码。本次毕业设计中,在熟悉Mentor Graphics ATPG工具 FastScan的基本功能和其主要的测试模式输出文件的格式的基础上, 实现其中测试结构和测试模式数据的分析提取, 并且在掌握典型的测试模式压缩 算法的思想以及 C/C++开发环境的前提下,选择或综合相关的优化压缩算法,针 对测试结构信息,实现测试模式数据的压缩,及软件的基本图形化操作和结果报 告界面。

    标签: Graphics FastScan Mentor ATPG

    上传时间: 2017-08-17

    上传用户:bcjtao