探测电路

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我公司生产的 USBkey 产品所使用的MCU 电路,自2007 年9 月初USBkey 产品开始量产化后,我们对其部分产品做了电老化试验,发现该款电路早期失效问题达不到我们要求,上电以后一段时间内失效率为千分之一点五左右。为此,我们从去年...

2014-12-28 90 探测电路

变压器出口短路后电气试验的探讨 摘要:在大短路电流作用下,机械损伤的基本形式是变压器绕组变形,它们发展的典型方式是变形引起局部放电,匝、层间短路

2023-10-22 1 探测电路

在大短路电流作用下,机械损伤的基本形式是变压器绕组变形,它们发展的典型方式是变形引起局部放电,匝、层间短路,整段主绝缘放电或完全击穿导致主绝缘破坏。因此,变压器出口短路后的检测试验一项必要的关系到运行

2024-02-29 4 探测电路