怎样判断IGBT MOS管的好坏？怎么检测它的引脚？IGBT1、判断极性首先将万用表拨在R×1KΩ 挡，用万用表测量时， 若某一极与其它两极阻值为无穷大，调换表笔后该极与其它两极的阻值仍为无穷大， 则判断此极为栅极（G ）。其余两极再用万用表测量， 若测得阻值为无穷大， 调换表笔后测量阻值较小。在测量阻值较小的一次中，则判断红表笔接的为集电极（ C）；黑表笔接的为发射极（E）。2、判断好坏将万用表拨在R×10KΩ 挡，用黑表笔接IGBT 的集电极（C），红表笔接IGBT 的发射极（ E），此时万用表的指针在零位。用手指同时触及一下栅极（ G）和集电极（C），这时IGBT 被触发导通，万用表的指针摆向阻值较小的方向，并能站住指示在某一位置。然后再用手指同时触及一下栅极（ G）和发射极（ E），这时IGBT 被阻断，万用表的指针回零。此时即可判断IGBT 是好的。3、注意事项任何指针式万用表皆可用于检测IGBT。注意判断IGBT 好坏时，一定要将万用表拨在R×10KΩ 挡，因R×1KΩ 挡以下各档万用表内部电池电压太低，检测好坏时不能使IGBT 导通，而无法判断IGBT 的好坏。此方法同样也可以用于检测功率场效应晶体管（ P-MOSFET ）的好坏。现在经常要检测MOS 管了，转几篇MOS 管的检测方法，以备随时观摩！用万用表检测MOS 开关管好坏的方法一、MOS 开关管针脚判断：在电脑上， MOS 管都是N 沟道增强型的MOSFET 开关管， 大部分都采用TO－220F 封装，其针脚判断方法是：将针脚向下，印有型号的面向自己，左边的是栅极，中间是漏极，右边是源极。
上传时间： 2022-06-22
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照度计是一种把可以见光通过特定的光电传感器和转换电路，用来检测出光照度具体数值大小的仪器。本文文的照度计，基于51单片机为主要的控制芯片，再结合光电检测电路、模数转换电路以及显示电路，把检测出来的光照度的数值通过数码管显示。与传统照度计相比，51单片机过片为核心的照度计的优点在于具有稳定性较高、电路简单、成本低、再续功能添加较为方便等。目前市场上的照度计仪器，主要采用特别文的的控制芯片作为主要控制器，成本较高且进行文较为复杂。因此，如何文成本低廉、精度较高、携带方便并且有实际应用价值的数字显示照度计，显得有十分重要的意义。照度的检测方法一般可以分为目视法和客观法。而目前在照度检测领域，一般认为目视法有被客观法逐渐取代的趋势，另一方面随着各种方便和可以靠的照度计出现，在我们的实际工作中绝大部分检测都把采用客观法，即通过照度计来进行。将于照度检测系统来说，他们的原理主要是通过光电探测器件，把光数据转化成很小的电数据输出，然后通过放大电路以及模数转换电路等后续的处理，再通过一定的算法并通过LED显示具体的照度值，从而可以得出照度值的具体大小。传统的照度计，主要是数码管和指针显示。指针式操作复杂，检测精度很低，而且很容易受到外界的干扰。数码管显示的方式，检测精度和显示有一定的提高，但是检测范围有限，而且数码管耗电量也较大，所以需要的硬件电路也比较复杂。于是可以通过采用量程转化的方式，当低照度低电流输出时采用高放大倍数，当高照度大电流输出时采用低放大倍数，在增加检测精确度和稳定性的同时，也可以降低成本。
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eeworm.com VIP专区 单片机源码系列 38资源包含以下内容：1. C51的存储种类和存储器类型.doc2. 单片机外围电路设计.pdf3. LCD12864数据手册.rar4. 51单片机C语言全新教程_(强力推荐).pdf5. 模数转换器设计指南 第十八版.rar6. 单片机:推箱子游戏HEX文件.rar7. pcf8591中文.pdf8. 基于单片机的推箱子游戏仿真结果.rar9. DS1302实时时钟芯片的C语言源程序.ppt10. 单片机使用工具.exe11. 单片机语音技术.pdf12. 基于AT89S51单片机的频率可调的方波信号发生器.rar13. 汇编小程序.rar14. TX-1C型单片机原理图.pdf15. 单片机ppt教程.zip16. 单片机控制的电动车控制器.doc17. 单片机C语言程序设计实训100例.pdf18. C语言编程宝典.rar19. 基于STC89C52单片机的全自动充电机设计.zip20. 学习MSP430单片机讲座（软件）.pdf21. 基于GSM短信模块的定位跟踪系统设计实现.pdf22. 加油机监控系统设计.pdf23. 基于GSM无线传输的远程抄表终端设计论文.pdf24. 单片机原理实验指导书.doc25. MSP430 C语言例题.pdf26. DS18B20温度测量、报警系统的设计.doc27. [电动机的单片机控制].王晓明.扫描版.pdf28. PIC单片机C语言.pdf29. MSP430寄存器.doc30. 单片机双机通信系统-课程设计.doc31. PIC16C5X系列单片机的原理及应用.pdf32. ABB_使用入门_-_IRC5_与_RobotStudio_Online.pdf33. 单片机与数模转换器的接口.pdf34. 单片机c实例100.doc35. DS18B20温度测量、报警系统的设计.doc36. 智能小车设计论文(电路+程序+论文).doc37. 单片机小工具.exe38. 基于单片机温度控制系统的硬件设计.pdf39. EK-LM3S8962评估板用户手册.pdf40. 电子基础--单片机微处理器和微控制器.rar41. C语言32个关键字.doc42. DD-900实验开发板原理图.pdf43. 波形发生器的设计.ppt44. MCS-51单片机实用子程序集.pdf45. MSP430中文手册.pdf46. 单片机波形发生器的设计.pdf47. iar_msp430_教程.pdf48. MSP430系列常用模块应用原理.pdf49. 通用LED点阵代码生成器.exe50. AVR单片机入门教程.pdf51. PSHLY-B回路电阻测试仪.doc52. 摇摇棒程序C语言代码.doc53. C语言编程宝典.rar54. ISP下载线.rar55. 六位数码管知识学习.doc56. Keil与proteus完美结合.zip57. ht6221资料.pdf58. 51单片机开发入门与典型实例.rar59. MSP430中实现硬件精确延时方法.pdf60. 单片机模块教学讲义.doc61. 51单片机C语言编程入门(中科大).pdf62. EM78P520N 中文版.pdf63. 懒人C51初始化程序.exe.exe64. EM78P468N 中文版.pdf65. 字模软件 V0.1.exe66. EM78P418N 中文版.pdf67. PWM调速计算软件.exe68. EM78P176N 中文版.pdf69. EM78P173N 中文版.pdf70. EM78P372N规格书.pdf71. MSP430单片机教学课件.pdf72. 495个C语言问题.pdf73. PIC单片机实用教程-提高篇.pdf74. 贴片外观检验规范.doc75. 51单片机-1602-按键-温度-时钟.doc76. LED光立方制作.ppt77. 指针式与数字式万用表各有优缺点.doc78. PL-2303 Win7 Driver Installer.exe79. 键盘输入接口与状态机编程学习.doc80. 单片机和电机的简单结合运用.rar81. 51单片机自动变速的跑马灯试验.pdf82. 《实战AVR单片机C语言》.pdf83. 电压表液晶显示.rar84. 卡尔曼滤波的基本原理及应用.pdf85. PT100温度传感器.pdf86. 温度传感器按键设置上下温度1602的应用.rar87. MC9S08DZ60中文数据手册.pdf88. 单片机智能小车巡迹壁障.doc89. msp430程序运用步骤讲解.pdf90. 基于STC12C5A60S2与AD620的小信号采集系统.rar91. 避障模块.rar92. STC89C51RC中文手册.pdf93. 89c51的等精度频率计lcd1602显示.rar94. 经典基本电路分析.pdf95. 单片机C语言应用程序设计（修订版）.rar96. Keil_uVision4_V9.00汉化包.rar97. 基于单片机的无刷直流电机的控制系统——论文.doc98. DIY_3D8光立方.pdf99. 单片机项目18-汉字显示（LCD12864）.rar100. 单片机项目24-基于VB的上位机程序设计.rar
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分区式存储管理源代码 一、可变分区存储管理的基本策略 1)不预先划分几个固定分区，分区的建立是在作业的处理过程中进行的，各分区的大小由作业的空间需求量决定。 2)采用指针方式将各个空闲分区链接而成的链表，用以记录主存分配现状。 3)分配与回收算法按空闲分区链接方式的不同分类，有最佳、最坏、首次和下次适应四种算法。 二、程序模拟的设计 1、基本思想 采用事件驱动模型。事件有： 1)申请主存事件，表示一个作业创建时提出的主存资源要求； 2)释放主存事件，表示一个作业结束时其占用主存被回收。 2、数据结构设计 ...... typedef struct Event_DataType{事件数据类型的定义intEventType事件的类型 申请ASK或释放RELEASE int OccurTime 事件发生的时间 char JobName 申请主存或被回收主存的作业名 int JobId 进入系统的作业在作业表中相应表项的编号 int SizeOfMemoryForAsk 作业申请占用主存的尺寸 int OccupyTimeOfMemoryForAsk 作业申请占用主存的时间长度 int WaitFlag 该事件是否等待过TRUE或FALSE
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相位式激光测距仪的改进设计
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