扫描系统

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介绍了对新型发光二极管外延片光致发光系统的改进,以VC.net 为语言工具编制软件,对发光二极管外延片关键性能参数的测量结果进行分析。增加了薄膜厚度测量的性能,完善了测量系统的功能。基于PC

2023-12-29 9 扫描系统

边界扫描软件,可根据BSDL以及连形状检测板上电路连接,可在指定引脚上输出方波。

2014-01-13 184 扫描系统

键盘扫描输入,本人原创,比较有特色,扫描时采用硬件完成,占用CPU时间极短

2015-06-01 172 扫描系统