基于ARM系统的表面粗糙度测量仪的设计.pdf
表面粗糙度是机械加工中描述工件表面微观形状重要的参数。在机械零件切削的过程中，刀具或砂轮遗留的刀痕，切屑分离时的塑性变形和机床振动等因素，会使零件的表面形成微小的蜂谷。这些微小峰谷的高低程度和间距状况就叫做表面粗糙度，也称为微观不平度。表面粗糙度的测量是几何测量中的一个重要部分，它对于现代制造业的发...
扫描测量技术资料
📦 资源总数：5157
📄 技术文档：1
💻 源代码：7362
扫描测量技术，作为现代电子工程中的关键环节，通过高精度传感器与先进算法结合，实现对物体形状、尺寸及位置的精准捕捉。广泛应用于工业自动化、3D打印、机器人视觉等领域，是提升生产效率与产品质量不可或缺的技术手段。本页面汇集了5157份精选资源，涵盖理论基础、实践案例及最新研究成果，旨在为电子工程师提供全面的学习资料和技术支持，助力您在专业领域内持续成长。
🔥 扫描测量热门资料
查看全部5157个资源 »基于ARM的TimeToCount辐射测量仪的研究
随着半导体工艺的飞速发展和芯片设计水平的不断进步，ARM微处理器的性能得到大幅度地提高，同时其芯片的价格也在不断下降，嵌入式系统以其独有的优势，己经广泛地渗透到科学研究和日常生活的各个方面。 本文以ARM7 LPC2132处理器为核心，结合盖革一弥勒计数管对Time-To-Count辐射测量方法进行...
基于ARM的超声波风速测量系统设计
风速是气象测量的一个重要要素，利用超声波进行风速测量现如今得到广泛的应用，技术已经很成熟。当超声波在空气中传播时，受到风速的影响，顺风和逆风情况下存在一个时间差，基于这个原理制成的时差法超声波风速测量仪表，具有精度高、可靠性强、集成度高等优势，并可以与雨量、湿度等测量仪表构成完整的移动气象站，与传统...
基于ARM的车辆姿态测量系统设计
车辆姿态是车辆控制所需的重要参数，其测量方法、测量精度与测量系统的性能和成本密切相关。随着微处理器技术与新型传感器技术的发展，利用加速度计、磁阻传感器和ARM微处理器构成基于地球磁场和重力场的捷联式姿态测量系统，已成为许多载体姿态测量的首选。同时姿态测量系统住地理勘探、石油甲台钻井和机器人控制方血也...
光纤位移传感器在微位移测量中的应用研究
设计了一种测量微位移的光纤位移传感器, 得到了传感器的位移2相位变化关系, 通过相位检出, 获得了微位移量。分析表明, 光纤位移传感器能够满足微位移测量的要求。关键词: 光纤传感器; 微位移;...
📄 扫描测量技术文档
查看更多 »💻 扫描测量源代码
查看更多 »📂 扫描测量资料分类