扫描处理
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边扫描测试是在20世纪80年代中期做为解决PCB物理访问问题的JTAG接口发展起来的,这样的问题是新的封装技术导致电路板装配日益拥挤所产生的。边界扫描在芯片级层次上嵌入测试电路,以形成全面的电路板级测试协议。
2024-05-24
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用于快速三维扫描的主从式图像采集处理系统
· 摘要: 提出了用于快速三维扫描的主从式图像采集处理系统的结构.该系统集图像采集和快速处理于一体,结构紧凑.PC和DSP并行运行,充分发挥DSP强大的数据处理能力,减轻了PC的负担,PC承担的三维重构和机械控制系统的...
2024-06-14
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