挠性印制板很容易在大应力的作用下造成开裂或断裂，在设计时常在拐角处采用抗撕裂结构设计以更好地改善FPC的抗撕裂的性能。
上传时间： 2013-11-22
上传用户：crazyer
运用三维全波电磁仿真软件对甚低频T形面型天线进行电磁建模和仿真分析计算，分析了天线的输入阻抗、有效高度、电容等电气参数。在建模时考虑了铁塔及不同顶容线模型的影响，并对有无铁塔及不同铁塔类型、以及天线不同形式时天线的输入阻抗进行对比分析。
上传时间： 2013-10-13
上传用户：LouieWu
挠性印制板很容易在大应力的作用下造成开裂或断裂，在设计时常在拐角处采用抗撕裂结构设计以更好地改善FPC的抗撕裂的性能。
上传时间： 2013-11-19
上传用户：kelimu
计算机算法设计与分析讲义，主要包括了最基本的算法性能分析和性能测试方面的主要思想。
上传时间： 2016-02-05
上传用户：anng
跨平台性能调试工具，支持intel,amd,mips,arm, sparc等多种平台。支持linux内核，驱动和应用的性能分析。识别应用瓶颈，帮助你提升应用的整体性能。
上传时间： 2014-06-04
上传用户：x4587
算法分析，算法理解，算法性能分析，算法综述等等。
标签： 算法分析
上传时间： 2016-11-10
上传用户：lepoke
算法复杂度分析，算法复杂度分析，包括时间性能分析等等！
上传时间： 2017-06-24
上传用户：wweqas
《数字信号全相位谱分析与滤波技术》系统地介绍了一种新的信号处理方法——全相位数字信号处理方法（此方法非常适合对间断信号进行处理），并且利用这种新方法对数字信号处理学科的两个最基本的问题——谱分析和数字滤波问题进行了深入研究。《数字信号全相位谱分析与滤波技术》涉及的内容包括全相位数字数据预处理、全相位FFT频谱分析原理及其应用、DFT域全相位数字滤波器性能分析、高性能全相位滤波器设计、全相位滤波器组、全相位滤波器族、二维全相位内插滤波器设计、立体数字信息的压缩与重构等。《数字信号全相位谱分析与滤波技术》在应用基础理论方面有一定的独特见解，并开发了不少性能优良的新型算法，因而其研究成果有望应用于通信、雷达、图像处理、自动控制、生物医学、故障检测、仪器仪表等工程技术领域。 《数字信号全相位谱分析与滤波技术》的研究成果全部为作者原创，适合作为研究生的参考资料，也适合高年级本科生阅读，并可作为相关领域的研究人员的参考用书。
上传时间： 2022-05-23
上传用户：1208020161
基于MATALB的qc-ldpc码的编码，解码和主程序，打开MATALB对主程序仿真即可。每一句自己都有汉语解释，严格对照每一步原理，新手小白都能看懂哦，希望有需要的可以看看，自己也可以根据我的进行参数改变，对不同的性能分析。可以私信我多交流哦！
上传时间： 2022-06-03
上传用户：XuVshu
在UEFI开源社区中，存在四个与UEFI BIOS相关的开源项目，分别为EDK（EFI Dev Kit），EDKII，EFI Shell和EFI Toolkit.其中，EDKII（EFI Development Kit）是一个开源的EFI BIOS的发布框架，其中包含一系列的开发示例和大量基本的底层库函数，因此，对于其MDE（Module Development Environment）模块开发环境的分析与测试能够在最大程度上保证开发的稳定性和质量。因而选题具有一定的实用性和先进性，此外，整个分析和测试设计的过程中，能够充分体现出在UEFI从事程序设计相对于传统BIOS环境下的优势。本论文计划从以下几个方面进行研究：1、学习研究UEFI（统一可拓展固件接口）技术；2、学习研究EDKII框架和相应的MDE（模块开发环境）；3、搭建MDE库的测试框架MdeTestPkg：4、编写MdeTestPkg下的测试实例，实现对MDE库的分析与测试。通过对现有的UEFT（统一可扩展固件按口）技术的学习，深入了解UEFI BIOS的背景知识。在此基础上，学习研究EDK II的整体架构和模块单元开发设计的规范和方法，并用基于EDK 11搭建MDE（模块开发环境）的测试框架，编写类库的测试实例。最终的结果是完成MDE，即模块开发环境框架中的44个库类在DXE阶段的功能分析与测试，并且由于类际的4通性，使得测试的类际能够在不同的平台架构（如：IA32，X64和IPF等）上成功运行，具有很好的稳定性和健壮性。在本论文中，我只以NT32平台架构为例，来说明MDE库在NT32平台下的测试框架的搭建以及对于MDE库类的测试实例的设计，编写和测试。
上传时间： 2022-06-26
上传用户：kent
