📚 并行测试技术资料

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并行测试技术是现代电子设计与制造中不可或缺的一环,通过同时对多个设备或电路进行测试,极大地提高了效率和准确性。广泛应用于半导体、集成电路、消费电子产品等领域,对于缩短产品上市时间、降低成本具有重要作用。掌握并行测试方法不仅能够帮助工程师提升个人技能,还能为企业带来显著的竞争优势。本页面汇集了13929份精选资源,涵盖从基础理论到高级应用的全方位知识体系,是每位追求卓越的电子工程师不可多得的学...

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 介绍了一种基于多DSP的并行处理系统设计与实现,以及其在分布式雷达组网航迹融合中的实际应用。重点介绍了该系统由1块系统主板和4块TS201处理板卡组成的原理和结构,即系统内主板与处理板卡的板级并行设计、单块板卡多DSP并行结构的设计、板级间,单块板卡内传输通道的设计。通过具体应用说明,该...

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LTE基站误码率测试是基站射频测试中最为关键的测试项目之一,提出一种快速、高效的测试方法和测试架构。该方案采用基站射频板作为数据采集卡、完成上行链路的解调和模拟信号转换成I/Q数据功能,利用ADS、MATLAB搭建上行信道的同步、解码功能。测试表明该方案的测试精度达到 0.2dB,完全满足研发和生产...

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