📚 并行测试技术资料

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并行测试技术是现代电子设计与制造中不可或缺的一环,通过同时对多个设备或电路进行测试,极大地提高了效率和准确性。广泛应用于半导体、集成电路、消费电子产品等领域,对于缩短产品上市时间、降低成本具有重要作用。掌握并行测试方法不仅能够帮助工程师提升个人技能,还能为企业带来显著的竞争优势。本页面汇集了13929份精选资源,涵盖从基础理论到高级应用的全方位知识体系,是每位追求卓越的电子工程师不可多得的学...

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随着信息时代的到来,用户对数据保护和传输可靠性的要求也在不断提高。由于信道衰落,信号经信道传输后,到达接收端不可避免地会受到干扰而出现信号失真。因此需要采用差错控制技术来检测和纠正由信道失真引起的信息传输错误。RS(Reed—Solomon)码是差错控制领域中一类重要的线性分组码,由于它编解码结构相...

📅 👤 思琦琦

  本文对于全并行Viterbi译码器的设计及其FPGA实现方案进行了研究,并最终将用FPGA实现的译码器嵌入到某数字通信系统之中。  首先介绍了卷积码及Viterbi译码算法的基本原理,并对卷积码的纠错性能进行了理论分析。接着介绍了Viterbi译码器各个模块实现的一些经典算法,对这些算法的硬件结...

📅 👤 13913148949

可靠通信要求消息从信源到信宿尽量无误传输,这就要求通信系统具有很好的纠错能力,如使用差错控制编码。自仙农定理提出以来,先后有许多纠错编码被相继提出,例如汉明码,BCH码和RS码等,而C。Berrou等人于1993年提出的Turbo码以其优异的纠错性能成为通信界的一个里程碑。 然而,Turbo码迭代译...

📅 👤 ziyu_job1234

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