📚 干涉图像技术资料

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干涉图像技术,作为光学测量与分析的核心手段之一,广泛应用于精密测量、形貌检测及材料科学等领域。通过利用光波的干涉现象,能够实现纳米级精度的表面形貌测量,为科学研究和工业生产提供了强有力的支持。本页面汇集了5711个精选资源,涵盖从基础理论到高级应用的全方位内容,是电子工程师深入学习干涉成像原理、提升专业技能的理想平台。探索最新研究成果和技术进展,助力您的项目达到更高水平。

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提出了一种基于横向塞曼激光器的新的滚转角测量系统。该系统在已有技术的基础上,将测量放大倍率又扩展了4 倍,从而大大提高了滚转角的测量精度。系统以横向塞曼激光器出射的正交线偏振光作为测量光,首先经1/4...

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摘 要:该文就机载差分干涉中影响精度的几个重要因素进行了详细的分析,为开展机载差分干涉应用提供理论基础。首先考虑机载差分干涉算法流程中引入的误差,指出必须利用外部DEM(Digital Elevation Model)计算本地视角才能实现高精度的形变反演。随后,重点讨论了影响差分干涉SAR (Syn...

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