📚 失效机理技术资料

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失效机理是电子工程中至关重要的研究领域,深入探讨了电子元器件及系统在特定条件下性能下降直至失效的过程与原因。涵盖从半导体材料老化、焊接点裂纹到电路板腐蚀等多种现象,广泛应用于可靠性设计、故障诊断及预防维护等领域。掌握失效机理不仅能够帮助工程师提高产品寿命和稳定性,还能有效降低研发成本。本站汇集365份精选资料,包括案例分析、实验报告及理论研究,助力您成为该领域的专家。

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· 摘要:  采用密度泛函理论(DFT)的B3LYP方法,在LanL2DZ基组下,研究了NO在铜离子交换型沸石分子筛催化剂(Cu-ZSM-5)上的吸附情况.首先优化了吸附模型的几何构型参数,然后通过分析Mulliken电荷分布和轨道布居数,进一步探讨了NO在Cu-ZSM-5上吸附...

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