外部Flash调试
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外部Flash调试 热门资料
查看全部 500 份 →28335 片外Flash和Sram实验
1、实验目的: (1)了解SXD28335的XINTF总线工作原理; 2、实验设备: (1)PC 机一台; (2)XDS100v2或XDS100V3(隔离)仿真器一套; 3、实验步骤: (1)首先将CCS...
2015-12-30
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ATMEL at45db161b系列Flash驱动程序,已经全部调试完毕,代码移值只需改IO口即可;
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2014-11-30
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stc单片机IAP源码,可将数据写入单片机内部FLASH中,无须外扩FLASH,速度快
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2014-01-05
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