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一种用于圆片级1f噪声的新型测量方法，提供高精度测试方案，适用于半导体器件性能分析与优化。包含实验设计与数据处理流程，适合相关领域研究人员与工程师参考使用。

2026-03-12 1 声强测量

根据声表面波(SAW ) 器件的P 矩阵模型, 叉指反射栅外接负载阻抗不同会导致声反射系数的变化. 根据此原理, 普通SAW 器件的反射栅外接阻抗变化的常规传感器可方便地实现无线测量. 通过制作相应的

2024-03-20 8 声强测量

基于超声波技术的检测方法，通常需要精确地测量超声波在介质中的传播时间。针对超声波无损压力检测技术开发了-种采用同振法测量超声波传播时间的装置。测量时，装置中接收探头检测到的信号通过门电路输出并再次触发

2024-05-20 9 声强测量