我的这些都是垃圾啊垃圾啊垃圾哀怜机啊旧拉旧拉拉垃圾蓝点颏解放安放按时地方
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上传时间： 2013-12-19
上传用户：baiom
自动售卖机的设计，有源代码，希望对大家有用
标签： 自动
上传时间： 2017-06-03
上传用户：wanqunsheng
0094、自动加料机控制系统毕业设计论文资料
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上传时间： 2014-04-09
上传用户：小草123
摘要：介绍了一套基于PLC及步进电机控制的自动喷涂机。该系统基于西门子PLC和步进电机位置控制器控制，使用西门子操作员面板为人机界面，实现了发动机内壁涂层的自动喷涂，改善了涂层的均匀性，提高了工作效率，避免了挥发性气体对操作人员的身体伤害。
上传时间： 2022-07-09
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在现代科学技术的许多领域中，自动控制技术起这愈来愈重要的作用，并且，随着生产和科学技术的发展，自动化水平也越来越高。自动控制利用控制装置使被控对象的某个参数自动的按照预定的规律运行。本设计的自动加料机控制系统就是采用自动控制技术来实现功能的，这样就大大提高了工作的效率，整个过程又快又稳。1.2 自动加料机控制系统的工作原理及技术要求本设计的由单片机控制的自动加料系统是与料斗式干燥机配套的加料系统。根据加料工艺要求，其工作原理是：先将真空管关闭，启动电机，用低真空气流将塑料树脂粒子送入真空管，电机停转，再将粒子排入料斗，如此循环。在设计的控制系统中，可用一个电机控制两个加料生产线，由方向阀切换。两个生产线既可单独运行，也可同时运行。假如两者同时运行，当一生产线输送结束后，判断到另一个生产线排料已经结束，那么，电机不停转而方向阀换向，从而为另一个生产线送料。这样可以发挥控制系统和电机的效率，从而实现供料自动化。控制系统的控制器有单片机89C51 和扩展电路组成，单片机控制继电器，继电器控制交流接触器，又由接触器控制电机等执行机构的运动。本控制系统可以根据送料工艺的需要，设置两条生产线的输送、排料、满料、空料等参数值，也可装载系统前次工艺参数值。
上传时间： 2022-07-29
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本设计的由单片机控制的自动加料系统是与料斗式干燥机配套的加料系统。根据加料工艺要求，其工作原理是：先将真空管关闭，启动电机，用低真空气流将塑料树脂粒子送入真空管，电机停转，再将粒子排入料斗，如此循环。 在设计的控制系统中，可用一个电机控制两个加料生产线，由方向阀切换。两个生产线既可单独运行，也可同时运行。假如两者同时运行，当一生产线输送结束后，判断到另一个生产线排料已经结束，那么，电机不停转而方向阀换向，从而为另一个生产线送料。这样可以发挥控制系统和电机的效率，从而实现供料自动化。
上传时间： 2013-10-20
上传用户：sdfsdfs1
实现宽带定时自动拨号断线，可用于突破IP限制的网络自动投票机。
上传时间： 2015-11-14
上传用户：rocwangdp
Allegro垃圾自动清理，将脚本放在要清理的目录下运行。
标签： Allegro
上传时间： 2017-09-10
上传用户：14007880
采用 STM32F103ZET6 作为主控芯片，PCL6045BL 作为运动控制核心芯片， 设计了基于 ARM 芯片的 KN95 半自动口罩机控制系统[1]。 采用 ARM 芯片作为主 CPU，对整个控制系统进行了整体方案设计、硬件设计和软件设计。通过对滚花主轴和对折轴的精确控制， 实现了对滚花主轴和对折轴的同步控制和协同动作，完成对 KN95 口罩的生产动作，并实现了工程样机。
上传时间： 2022-03-27
上传用户：1208020161
高性能ADC产品的出现，给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化，减少了单个ADC的平均测试时间，从而降低ADC测试成本。 本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上，总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实现时域参数评估算法和频域参数评估算法，并对2个ADC在不同样本数条件下进行并行测试。 通过在FPGA内部实现ADC测试时域算法和频域算法相结合的方法来搭建测试系统，完成音频编解码器WM8731L的控制模式接口、音频数据接口、ADC测试时域算法和频域算法的FPGA实现。整个测试系统使用Angilent 33220A任意信号发生器提供模拟激励信号，共用一个FPGA内部实现的采样时钟控制模块。并行测试系统将WM8731.L片内的两个独立ADC的串行输出数据分流成左右两通道，并对其进行串并转换。然后对左右两个通道分别配置一个FFT算法模块和时域算法模块，并行地实现了ADC参数的评估算法。 在样本数分别为128和4096的实验条件下，对WM8731L片内2个被测.ADC并行地进行参数评估，被测参数包括增益GAIN、偏移量OFFSET、信噪比SNR、信号与噪声谐波失真比SINAD、总谐波失真THD等5个常用参数。实验结果表明，通过在FPGA内配置2个独立的参数计算模块，可并行地实现对2个相同ADC的参数评估，减小单个ADC的平均测试时间。 FPGA片内实时评估算法的实现节省了测试样本传输至自动测试机PC端的时间。而且只需将HDL代码多次复制，就可实现多个被测ADC在同一时刻并行地被评估，配置灵活。基于FPGA的ADC并行测试方法易于实现，具有可行性，但由于噪声的影响，测试精度有待进一步提高。该方法可用于自动测试机的混合信号选项卡或测试子系统。 关键词：ADC测试；并行；参数评估；FPGA；FFT
上传时间： 2013-07-11
上传用户：tdyoung
