图像扫描
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查看全部 500 份 →边扫描测试
边扫描测试是在20世纪80年代中期做为解决PCB物理访问问题的JTAG接口发展起来的，这样的问题是新的封装技术导致电路板装配日益拥挤所产生的。边界扫描在芯片级层次上嵌入测试电路，以形成全面的电路板级测试协议。
2024-05-24
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扫描成像系统的激光干扰效果分析
从破坏机理和损伤阈值方面分析了光电探测器的干扰机理。给出了激光干扰概率模型，提出自适应干扰和时域均匀干扰两种干扰模式，对两种不同干扰方式下扫描成像设备的干扰概率进行了理论计算并得出了试验结果，验
2023-11-23
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